淬火層測厚儀有哪些優勢？

　　

　　隨（suí）著技術的日（rì）益進步，特別是近年來（lái）引（yǐn）入微（wēi）機（jī）技術（shù）後，采用磁性法和渦流法（fǎ）的測厚（hòu）儀向（xiàng）微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進（jìn）了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到（dào）1%，有了大幅度的提高。它適用範圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科（kē）研使用廣泛的測厚儀（yí）器。采（cǎi）用無損方法既不破壞覆層也不破壞基（jī）材，檢測速度快，能（néng）使大量的檢測工作經濟地進行。

　　

　　淬火層（céng）測（cè）厚儀有哪些優勢：

　　1、無損檢測：無需（xū）破壞檢（jiǎn）測工件；

　　2、專屬定製（zhì）：測定對象不同而（ér）選擇探頭、支座實現高精度檢測；

　　3、結果準確：判斷（duàn）淬火硬化層的深度，檢（jiǎn）測結果用數據顯示；

　　4、檢查：對同一部件不同部分（fèn）反複檢查，對出廠（chǎng）產（chǎn）品（pǐn）檢查；

　　5、根據檢（jiǎn）測對象，定製支座：與工件高度契合，實現穩定測量；

　　6、特製（zhì）密封式局部水浸支座；

　　

　　表麵塗層測厚儀的的測量方法主要有：楔切（qiē）法，光截法，電解（jiě）法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒（yíng）光法，β射（shè）線反向散射法，電容法（fǎ）、磁性測量法及渦流測量法等。這些方（fāng）法（fǎ）中前五種是有損（sǔn）檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用於抽樣檢驗。

　　

　　X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置複雜昂貴（guì），測量範圍較小。因有放射源（yuán），使用者必須遵守射（shè）線防護規範。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合（hé）金（jīn）鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大於（yú）3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。