使用塗層測厚儀時，影響測量（liàng）結果會有（yǒu）哪些因素？

　　

　　下（xià）麵我們一起去看看使用時，影（yǐng）響塗層測厚儀測量結果的有哪些因素？

　　1、基（jī）體金屬磁性磁性法測厚受基體（tǐ）金屬磁性變（biàn）化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁（cí）性的變化可以（yǐ）認為（wéi）時輕微的）。為了避（bì）免熱處（chù）理、冷加工等因素的影響，應使用與試件金屬（shǔ）具有相（xiàng）同性質的鐵基片對儀器進行校準。

　　

　　2、基體金屬厚度每一種儀器都有一個基（jī）體金屬的（de）臨（lín）界厚度。大於這（zhè）個厚度測量就不受基體厚度的影響。

　　

　　3、邊緣效應本儀器對（duì）試片表（biǎo）麵形狀的陡變敏感。因此在靠近試片邊緣或內轉角處進行測量（liàng）是不可靠的。

　　

　　4、曲率（lǜ）試件的曲率對測量有影響，這種影響總是（shì）隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此不應在（zài）試（shì）件超過允許的曲率半（bàn）徑的（de）彎曲麵上測量。

　　

　　5、表麵（miàn）粗糙度基體金屬何覆蓋（gài）層的表麵粗糙度對測量有影響（xiǎng）。粗糙度（dù）增大，影響增大。粗糙表麵會引起係（xì）統誤差何偶然誤差。每次測量（liàng）時，在不同位置上應增加測量的次數，以克（kè）服這（zhè）種偶然誤差。如（rú）果（guǒ）基體金屬粗糙，還必須在未（wèi）屠夫的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個（gè）位置（zhì）校對儀器（qì）的零點；或用沒有腐蝕性的溶液除去基體金屬覆蓋層，再校對儀器的零點。

　　

　　6、磁場周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地幹擾磁性法（fǎ）測量厚度的工作。

　　

　　7、附著（zhe）物質本儀器對（duì）那些妨礙探頭與覆蓋層（céng）表（biǎo）麵緊密（mì）接觸的附著物質敏感。因此必須清除附著物質，以保證探頭與（yǔ）覆蓋層表麵直接接觸。

　　

　　8、探頭壓力探頭置於（yú）試（shì）件上施加的壓力大小會影響測量的讀數。因此本儀器（qì）探頭用彈簧保持一個基本恒定的（de）壓力。

　　

　　9、探頭的放置探（tàn）頭的放置（zhì）方式對測量有影響。在（zài）測（cè）量中，應當使探頭與試（shì）樣表（biǎo）麵保持垂（chuí）直。

　　

　　10、試件的變形探頭使軟覆（fù）蓋層試件變形。因此（cǐ）在這些試件上會測出不太可靠的數據。讀數次數通常儀器的每次讀（dú）數並不*相同。因此必須在每一測量麵積內取幾個讀數，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任（rèn）一給（gěi）定的麵積內進行多次測量。表麵粗糙時更（gèng）應如此。